来源：X-MOL
掺杂镧系上转换纳米颗粒（UCNPs）因其光稳定性窄带发射，已成为引人注目的光学探针。双波段激发为定制上变频发射提供了一种强大的方法，因为它有选择性地针对特定的 4f 跃迁。然而，由于竞争性双波长协同激发，实现上变频发射耗竭（即通过辅助辐照抑制发射）仍然具有挑战性。本文介绍了一种镧系三掺醇策略，利用再激发驱动的排放耗尽（REED）过程克服这一局限。在 REED 中，额外的激光会重新激发已激发的镧系离子，促进其从发射能级跃迁到更高发射能级。与此同时，引入的代多素子通过离子间交叉松弛（CR）和能量转移（ET）途径来减少这些高能级。这种协同结合的 CR/ET 和 REED 会消耗原始发射能级的人口，从而显著减少排放。作为概念验证，CR/ET-REED 方法被用于在 795 纳米激发和 1140 纳米再激发下，消耗 Er 在 Er 3+ –Yb 3+ –Ln 3+ （如 Tb 3+ 、Eu 3+ 、Dy 3+ ）三叠纳米粒子中 Er 3+ 的绿色上转换发射。耗尽效率从单掺杂 Er 3+ 的 19.4%提升到三掺杂纳米颗粒的 48.5%。利用这些纳米颗粒，在双波长激发下实现了高分辨率显微成像，分辨率低于 250 纳米。 这项工作为通过发射耗竭开发高分辨率成像探针提供了一种可推广的策略，代表了 UCNP 向三叠系统方向的范式转变。